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纳米粒度仪-粒径分析仪-zeta电位仪-晶圆检测设备-大塚电子(苏州)有限公司

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大塚电子(苏州)有限公司作为科学仪器提供商,提供包括纳米粒度仪,粒径分析仪,激光显微镜,zeta电位仪,zeta电位分析仪,白光干涉显微镜,CMP研磨颗粒,膜厚测量仪,3D显微镜,膜厚分析仪,反射式膜厚仪,膜厚检测仪,晶圆检测设备,偏光片检测,光纤光谱仪,在线膜厚仪、光谱仪、色谱仪等精密仪器。通过对材料进行化学、生命科学以及半导体和医药领域等,大塚电子打造出更胜一筹的客户导向型解决方案和服务。

珠海诚锋电子科技有限公司_半导体光学视觉检测设备_晶圆掩模版检测设备

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诚锋电子科技专注于半导体光学视觉检测设备的研发、生产和销售,具有完全自主知识产权,为半导体行业提供全方位的制造良率控制的光学检测解决方案。现有FAB前段缺陷监控CFW820系列、FAB前段工艺控制CFW920系列、后段工艺光学检测CFW380系列及红外检测CFW680系列等多款纳米图形晶圆检测设备。

半导体前道检测-半导体量检-8寸12寸晶圆检测-膜厚测量仪-晶圆元素浓度测量-盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司

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盖泽华矽半导体科技(上海)有限公司专注生产研发半导体量检设备,设备可为4寸5寸6寸8寸12寸晶圆检测.产品包含,晶圆膜厚测量仪、晶圆元素浓度测量机台等设备.为半导体前道检测应用场景提供了可以替换进口的国产化解决方案.联系电话400-026-0880.